CS1901X系列局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀——電子變壓器測(cè)試
所屬分類: 公司新聞
發(fā)布時(shí)間:2026-06-11
案例分享

- 試驗(yàn)?zāi)康模簠f(xié)助客戶測(cè)試6只樣品的PDIV和PDEV差異性
- 測(cè)試條件:測(cè)試電壓:5.4kV,上升時(shí)間:10s
- 測(cè)試時(shí)間:30s,下降時(shí)間:10s,PDIV≥5kV,起始電量:50PC,
- 熄滅電量:50pC
測(cè)試結(jié)果分析
根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)可分析,樣品1局部放電指標(biāo)滿足設(shè)計(jì)要求,樣品2-6為不合格產(chǎn)品。(備注:1號(hào)樣品為進(jìn)口高頻變壓器,樣品4-6為國(guó)內(nèi)制造商初期產(chǎn)品,樣品2-3為改進(jìn)工藝后產(chǎn)品。最終在廠家4輪更改后,產(chǎn)品局部放電測(cè)試樣品性能與樣品1一致,滿足出口要求。)

這是一個(gè)非常典型的案例,很好地揭示了局部放電測(cè)試在電子變壓器(尤其是高壓高頻變壓器)質(zhì)量控制和可靠性評(píng)估中的關(guān)鍵作用。局部放電測(cè)試是評(píng)估高壓變壓器絕緣系統(tǒng)長(zhǎng)期可靠性和工藝質(zhì)量的至關(guān)重要的“體檢”手段。它不是為了測(cè)試變壓器能否“通電工作”,而是為了預(yù)測(cè)其在長(zhǎng)期高壓應(yīng)力下能“可靠工作多久”。
問 為什么電子變壓器要進(jìn)行局放測(cè)試?
01 揭示肉眼不可見的潛在絕緣缺陷
這是最直接的原因。案例中樣品2-6的PDIV(局部放電起始電壓)低于5kV的要求,說明這些變壓器的絕緣系統(tǒng)存在微小但致命的缺陷。這些缺陷包括:內(nèi)部氣泡或空穴、尖端或毛刺、絕緣材料污染或雜質(zhì)、工藝不一致等,都會(huì)導(dǎo)致絕緣薄弱點(diǎn)。
案例關(guān)聯(lián): 樣品4-6作為國(guó)內(nèi)制造商初期產(chǎn)品,PDIV不合格,直接反映了其生產(chǎn)工藝(如繞線、浸漆)不成熟,存在上述缺陷。樣品2-3作為改進(jìn)工藝后產(chǎn)品,雖然可能有所改善,但PDIV仍未達(dá)標(biāo),說明改進(jìn)尚未觸及根本問題或新工藝引入了其他缺陷。
02預(yù)測(cè)產(chǎn)品的長(zhǎng)期壽命和可靠性
局部放電的破壞性是累積性的。每一次微小的放電都會(huì)造成電腐蝕、化學(xué)降解、熱降解等。這個(gè)過程雖然緩慢,但會(huì)持續(xù)不斷地削弱絕緣強(qiáng)度。最終,在長(zhǎng)期運(yùn)行電壓下,這個(gè)薄弱點(diǎn)會(huì)發(fā)展成導(dǎo)電通道,導(dǎo)致絕緣完全擊穿,變壓器短路失效。一個(gè)PDIV值低的產(chǎn)品,意味著它在正常工作時(shí)就可能已經(jīng)處于局部放電狀態(tài),其壽命會(huì)大大縮短。
案例關(guān)聯(lián): 該變壓器要求PDIV ≥ 5kV,意味著其工作電壓可能遠(yuǎn)低于5kV(例如3kV)。如果產(chǎn)品的PDIV只有4kV,那么在3kV下運(yùn)行可能是安全的(無放電)。但如果另一個(gè)產(chǎn)品的PDIV只有2kV,那么它在3kV下就會(huì)持續(xù)放電,很快損壞。測(cè)試確保了產(chǎn)品在額定工作電壓下有足夠的安全裕量。
03評(píng)估和優(yōu)化制造工藝的有效工具
案例中最能體現(xiàn)這一點(diǎn):“最終在廠家4輪更改后,產(chǎn)品局部放電測(cè)試樣品性能與樣品1一致”。
量化比較: PDIV/PDEV是具體的數(shù)值,為工藝改進(jìn)提供了明確的、可量化的目標(biāo)。制造商不能只憑“感覺”說工藝改好了,而必須用數(shù)據(jù)證明PDIV達(dá)到了進(jìn)口樣品(樣品1)的水平。
問題定位: 通過分析放電信號(hào)的特征,有時(shí)可以反推缺陷的類型和位置(是繞線問題還是浸漆問題),從而指導(dǎo)工藝改進(jìn)的方向。
一致性控制: 即使是合格的設(shè)計(jì),如果生產(chǎn)工藝波動(dòng)(如漆膜厚度、浸漆粘度、真空度變化),也會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品性能離散。局部放電測(cè)試可以篩選出因工藝波動(dòng)而產(chǎn)生的“次品”,保證出廠產(chǎn)品的一致性。
04滿足特定應(yīng)用領(lǐng)域的高可靠性要求
案例中提到“滿足出口要求”,這通常意味著產(chǎn)品要用于高端工業(yè)設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、新能源(光伏/電動(dòng)汽車)、軌道交通、航空航天等領(lǐng)域。這些領(lǐng)域?qū)υO(shè)備的壽命和可靠性要求極高,不允許出現(xiàn)因絕緣問題導(dǎo)致的突然故障。局部放電測(cè)試是這類高壓元器件必須通過的“門檻”之一。
Solution
針對(duì)上述關(guān)鍵問題,CS1901X系列局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀提供了專業(yè)的解決方案。下面將重點(diǎn)介紹儀器的產(chǎn)品特性與核心功能,展示如何滿足高標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試需求。

適用標(biāo)準(zhǔn)
CS1901X系列局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀,通過高靈敏度局部放電(PD)檢測(cè)技術(shù),量化分析設(shè)備在高壓、高頻工況下的絕緣劣化趨勢(shì),為新能源輔助變壓器、高頻變壓器、開關(guān)電源等關(guān)鍵部件的絕緣可靠性提供數(shù)據(jù)支撐,符合IEC60270(GB/T7354)、IEEE 436標(biāo)準(zhǔn)的要求。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
CS19010/CS19011/CS19013系列局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀是一款適用于高頻變壓器、線纜、絕緣膜、高壓隔離集成電路(如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數(shù)字通信芯片)、半導(dǎo)體高壓開關(guān)(如IGBT、MOSFET),及高壓絕緣組件(如隔離基板)、FIW線(完全絕緣漆包線)、低容值高壓電容器等器件耐電壓測(cè)試+漏電流測(cè)試+局部放電測(cè)試的綜合測(cè)量設(shè)備,可實(shí)現(xiàn)0.1kV~10kV范圍內(nèi)耐壓測(cè)試、0.1μA~1mA漏電流測(cè)試、1pC~10000pC局部放電測(cè)試,在發(fā)現(xiàn)隱藏在隔離器件/絕緣材料中的弱絕緣缺陷應(yīng)用中展現(xiàn)出卓越的性能。
產(chǎn)品性能
1.實(shí)時(shí)的Q/V、Q/t趨勢(shì)圖:可觀測(cè)實(shí)時(shí)升降壓及測(cè)試過程中的局部放電變化趨勢(shì);
2.精準(zhǔn)的小信號(hào)測(cè)量:可測(cè)量1pC的電量,分辨率0.1pC。細(xì)微之處,盡顯眼底
3.HVCC檢測(cè)功能:避免塑封過程及測(cè)試夾具因素導(dǎo)致的接觸誤判;
4.適用性廣:可適用于光隔離器、IGBT、電子變壓器、高壓繼電器、定子、線材及絕緣材料的測(cè)試;
5.測(cè)試設(shè)置靈活:可根據(jù)測(cè)試模式,自由設(shè)置測(cè)試步驟、參數(shù),適用不同標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求;
6.實(shí)時(shí)、細(xì)致的服務(wù):及時(shí)針對(duì)客戶現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)的測(cè)試及自動(dòng)化配套問題,提供復(fù)雜環(huán)境下的測(cè)試解決方案。

Q-V趨勢(shì)圖
Q-V趨勢(shì)圖:
橫坐標(biāo):測(cè)試電壓,單位kV;縱坐標(biāo):放電量,單位pC,
黑線:電壓上升過程的放電曲線;紅線:電壓下降過程的放電曲線
Q-t趨勢(shì)圖:
橫坐標(biāo):測(cè)試時(shí)間,單位s;
縱坐標(biāo):放電量,單位pC。
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