程控耐壓絕緣測試儀（AC/DC/IR）CS9922BSJ

產(chǎn)品分類：

精密型耐壓測試儀

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產(chǎn)品詳情

技術(shù)參數(shù)

型號			CS9922BSJ
ACW	輸出電壓	范圍	0.050kV～5.000kV
		精度	±（1％讀值+5V）
		分辨率	1V
	最大輸出功率		100VA（5.000kV/20mA）
	最大額定電流		20mA
	下限電流范圍		0～20mA,0=不判斷下限
	電流檔位		200uA、2mA、20mA
	電弧偵測		(0.00-20.00)mA ac/(0-9) 0=關(guān)
	電弧偵測時(shí)間		(0.0-999.9)秒 0＝Disable
	輸出波形		正弦波
	輸出波形失真度		≤2%（空載或純阻性負(fù)載）
	電壓上升時(shí)間		0.3s～999.9s 0=電壓上升時(shí)間關(guān)
	測試時(shí)間		0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試
	電壓下降時(shí)間		0.3s～999.9s 0=電壓下降時(shí)間關(guān)
	間隔時(shí)間		0.0s～999.9s 0=間隔時(shí)間關(guān)
	輸出電壓模式		N 模式、G 模式
DCW	輸出電壓	范圍	0.050kV～6.000kV
		精度	±（1％讀值+5V）
		分辨率	1V
	最大輸出功率		60W（6.000Kv/10mA）
	最大額定電流		10mA
	電流檔位		2uA、20uA、200uA、2mA、10mA
	紋波系數(shù)		≤5%（6kV/10mA）
	放電時(shí)間		≤200ms
	電弧偵測		(0.00-10.00)mAac/(0-9) 0=關(guān)
	電弧偵測時(shí)間		(0.0-999.9)秒 0＝Disable
	電壓上升時(shí)間		0.3s～999.9s 0=電壓上升時(shí)間關(guān)
	測試時(shí)間		0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試
	電壓下降時(shí)間		0.3s～999.9s 0=電壓下降時(shí)間關(guān)
	間隔時(shí)間		0.0s～999.9s 0=間隔時(shí)間關(guān)
	延時(shí)報(bào)警時(shí)間		0.3s～999.9s 0=延時(shí)報(bào)警時(shí)間關(guān)
	輸出電壓模式		N 模式、G 模式
IR	輸出電壓	范圍	0.100kV～1.000kV
		精度	±（1％讀值+5V）
		分辨率	1V
	最大上限設(shè)定值		10.00GΩ
	最大下限設(shè)定值		10.00GΩ
	最小下限設(shè)定值		1MΩ
	電壓上升時(shí)間		0.3s～999.9s 0=電壓上升時(shí)間關(guān)
	測試時(shí)間		0.3s～999.9s 0=連續(xù)測試
	間隔時(shí)間		0.0s～999.9s 0=間隔時(shí)間關(guān)
	自動(dòng)切換檔位		可設(shè)置為開、關(guān)
	放電時(shí)間		≤200ms
電壓表	范圍		0.050kV～6.000kV
	精度		±（1％讀值+5V）
	分辨率		1V
	顯示數(shù)值		均方根值
電流表	測量范圍	AC	0 ～ 20mA
		DC	0 ～ 10mA
	分辨率	AC	200uA 檔：0.1uA,2mA 檔：1uA、20mA 檔：10uA
		DC	2uA 檔：0.001uA, 20uA 檔：0.01uA, 200uA 檔：0.1uA, 2mA 檔：1uA, 10 檔:10uA
	測量精度		±（1%讀值+2 個(gè)字）
	偏移功能		測試線及附件的的電流可以被減去。
	測試模式		接地模式：RETURN 端接機(jī)殼浮地模式：RETURN 端不接機(jī)殼
電阻表	測量范圍		1MΩ～9.999G
	分辨率		1.00MΩ～10.00MΩ為 0.01MΩ 10 .00MΩ～100.0MΩ為 0.01MΩ 0.100GΩ～1.000GΩ為 0.1MΩ 1.00GΩ～10.00GΩ為 1MΩ
	精度		0.100kV～0.300kV：(1MΩ- 1.000GΩ) ±（10%讀值+2 個(gè)字） 0.301kV～0.500kV：(1MΩ～5.000GΩ)小于 1.000GΩ為±（5%讀值+2 個(gè)字）大于 1.000GΩ為±（10%讀值+2 個(gè)字） 0.501kV～1.000kV：(1MΩ～10.00GΩ)小于 1.000GΩ為±（5%讀值+2 個(gè)字）大于 1.000GΩ為±（10%讀值+2 個(gè)字）
計(jì)時(shí)器	范圍		0～999.9s
	分辨率		0.1s
	精度		±（0.1%+50ms）
記憶組/測試步			50 組/40 步